特許分類 表
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  1. 特許検索結果コントロール
  2. 特許分類 表

特許分類表機能を使うことにより、しおりが設定された複数の特許文献に付与された特許分類を簡単に把握することができます。

特許分類表の使い方

まずは、適当な特許文献にしおりを設定します。

しおりの設定は、たとえば特許検索機能であれば、一覧表示画面からしおりを設定することができます。

しおりは、特許テキストマイニング機能やパテントマップ機能、特許閲覧支援機能などさまざまな機能から設定することができます。

検索結果を一覧表示させ、

特許検索結果の一覧表示

しおりを設定します。

今回は、いくつかの文献に「候補」しおりと、「次候補」しおりを設定しました。

特許文献へのしおりの設定

しおりを設定した後に、特許検索結果コントロールのMENUから「特許分類表」を選択します。

特許文献へのしおりの設定

特許分類表を選択すると、特許分類表ウィンドウがポップアップします。ポップアップ当初は「FI分類」の「クラス」について「候補」しおりが設定された文献に付与された特許分類を集計します。今回は特開2009-116614号以外の特許文献に「B01」の分類が付与されていることがわかります。また、特許分類名にマウスを重ねると特許分類の解説を見ることができます。

候補しおりの設定された特許文献に付与された特許分類の集計

次候補を含めて集計したい場合は、「次候補」ボタンをクリックします。すると、次候補ボタンが押下状態となり、押下状態となっている、「候補」しおりと、「次候補」しおりが設定された特許文献に付与された特許分類の集計を行うことができます。なお、候補ボタンを再度クリックすると押下状態を解除することができ、次候補しおりが設定された特許分類のみの集計を行うこともできます。また、「除外」しおりについても同じことが行えます。

「候補」しおりと「次候補」しおり、「除外」しおりとを異なった特許文献の集団について使い分けることにより、1つの特許検索結果(特に予備調査結果、1次調査結果)から異なった複数の観点の特許分類を抽出することができます。

候補しおりの設定された特許文献に付与された特許分類の集計

集計する特許分類の種類は、

  • 日本特許:FI、Fターム、IPC1-7、IPC8
  • 米国特許:IPC8、USクラス

から選択することができます。

集計する特許分類の種類

集計する特許分類の階層も、各特許分類に応じて自由に選択することができます。特許検索の目的に応じて、例えばもれがないことを重視するならば大きめの階層で、もれがある程度生じても構わず検索効率を重視する場合は小さめの階層の特許分類が重視されます。

集計する特許分類の階層

「本」アイコンをクリックすることにより特許分類書庫へ特許分類を追加することができます。

集計する特許分類の階層

特許分類表使用上の注意

特許分類表で集計できる特許文献数は現在10件までになっております。それ以上の特許文献の特許分類付与状況の分析は、特許テキストマイニングにおける「特許分類の分布分析」や、大規模な特許検索母集団についてはパテントマップの使用が推奨されます。